Näytetään tulokset 1 - 10 / 4848
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
 Julkaisujen tiedon ikoni

X-ray Absorption Spectroscopy and X-ray Diffraction of Co/SiO2

Eteläniemi, V.; Backman, L.B.; Rautiainen, Aimo; Krause, A.O.I.; Paakkari, T.
-1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Synchrotron x-ray topography of GaAs layers grown on GaAs substrates by liquid phase epitaxial lateral overgrowth

Vertaisarvioitu
Rantamäki, R.; Tuomi, T.; Zytkiewicz, Z.R.; Dobosz, D.; McNally, P.J.
-1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Dynamical diffraction imaging of microdefects in silicon

Vertaisarvioitu
Tuomi, T.; Rantamäki, R.; McNally, P.J.; Danilewsky, A.N.; Becker, P.
-2000 Julkaisujen tiedon ikoni

Photoreflectance and X-ray Diffraction Study of Semiconductor Heterostructures and Quantum Wells

Lipsanen, H.
-1994 Julkaisujen tiedon ikoni

X-ray diffraction study of GaSb on GaAs grown by MOVPE

Lipsanen, H.; Koljonen, T.; Sopanen, M.; Tuomi, T.
-1994 Julkaisujen tiedon ikoni

Intensity of N-beam X-ray diffraction: kinematical theory for a small crystal

Vertaisarvioitu
Nagao, Shijo
Acta Crystallographica Section A: Foundations of Crystallography2005 Julkaisujen tiedon ikoni

Synchrotron topography and X-ray diffraction study of GaInP layers grown on GaAs/Ge

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.jcrysgro.2009.08.032
Lankinen, A.; Knuuttila, L.; Kostamo, P.; Tuomi, T.O.; Lipsanen, H.; McNally, P.J.; "O'Reilly", L.
Journal of Crystal Growth2009 Julkaisujen tiedon ikoni

Europium-based high-temperature superconductors studied by X-ray diffraction and 151Eu Mössbauer spectroscopy

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1103/PhysRevB.46.8534
Linden, J.; Hietaniemi, J.; Ikonen, E.; Lippmaa, M.; Tittonen, I.; Katila, T.; Karlemo, T.; Karppine...
Physical Review B1992 Julkaisujen tiedon ikoni

Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements

Vertaisarvioitu
DOI
10.1002/pssc.200983630
Sintonen, Sakari; Suihkonen, Sami; Svensk, Olli; Törmä, Pekka Tuomas; Ali, Muhammad; Sopanen, Markku...
PHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS2010 Julkaisujen tiedon ikoni

White beam synchrotron x-ray topography and x-ray diffraction measurements of epitaxial lateral overgrowth of GaN

Vertaisarvioitu
Chen, W.M.; McNally, P.J.; Jacobs, K.; Tuomi, Turkka; Danilewsky, A.N.; Lowney, D.; Kanatharana, J.;...
-2002

X-ray Absorption Spectroscopy and X-ray Diffraction of Co/SiO2

1998

Synchrotron x-ray topography of GaAs layers grown on GaAs substrates by liquid phase epitaxial lateral overgrowth

Vertaisarvioitu
1998

Dynamical diffraction imaging of microdefects in silicon

Vertaisarvioitu
2000

Photoreflectance and X-ray Diffraction Study of Semiconductor Heterostructures and Quantum Wells

1994

X-ray diffraction study of GaSb on GaAs grown by MOVPE

1994

Intensity of N-beam X-ray diffraction: kinematical theory for a small crystal

Vertaisarvioitu
2005

Synchrotron topography and X-ray diffraction study of GaInP layers grown on GaAs/Ge

Vertaisarvioitu
DOI
10.1016/j.jcrysgro.2009.08.032
2009

Europium-based high-temperature superconductors studied by X-ray diffraction and 151Eu Mössbauer spectroscopy

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1103/PhysRevB.46.8534
1992

Characterization of InGaN/GaN and AlGaN/GaN superlattices by X-ray diffraction and X-ray reflectivity measurements

Vertaisarvioitu
DOI
10.1002/pssc.200983630
2010

White beam synchrotron x-ray topography and x-ray diffraction measurements of epitaxial lateral overgrowth of GaN

Vertaisarvioitu
2002